1. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
2. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
3. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : by Narinder Singh
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
4. Surveying
پدیدآورنده : Singh, Narinder
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Surveying,، Surveying - Public lands - United States
رده :
TA
545
.
S5
1982
5. Surveying
پدیدآورنده : [by] Narinder Singh
موضوع : Survwying
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
6. Surveying
پدیدآورنده : Singh, Narinder.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Surveying
رده :
TA
545
.
S55
7. Surveying
پدیدآورنده : Singh, Narinder
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع : ، Surveying
رده :
TA
545
.
S55